20 W (pat) 28/07

BPatG 154 05.11 BUNDESPATENTGERICHT 20 W (pat) 28/07 _______________ (Aktenzeichen) Verkündet am 18. April 2012 … B E S C H L U S S In der Beschwerdesache betreffend die Patentanmeldung 199 17 632.9-52 … hat der 20. Senat (Technischer Beschwerdesenat) auf die mündliche Verhandlung vom 18. April 2012 durch den Vorsitzenden Richter Dipl.-Phys. Dr. Mayer, die Richterin Kopacek sowie die Richter Dipl.-Ing. Kleinschmidt und Dipl.-Geophys. Dr. Wollny - 2 - beschlossen: Die Beschwerde wird zurückgewiesen. G r ü n d e I. Das Deutsche Patent- und Markenamt - Prüfungsstelle für Klasse G 01 N - hat die am 19. April 1999 beim Deutschen Patent- und Markenamt eingegangene Patent- anmeldung mit der Bezeichnung "Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Reinigung von op- toelektronischen Sensorsystemen zur Stoffanalyse" durch Beschluss vom 8. Mai 2007 zurückgewiesen. Der Zurückweisung lagen die Patentansprüche 1 bis 18 vom 16. April 2007, einge- gangen beim Deutschen Patent- und Markenamt am 19. April 2007, zugrunde. Die Zurückweisung der Patentanmeldung hat die Prüfungsstelle damit begründet, dass der Gegenstand des Anspruchs 1 gegenüber den ursprünglichen Anmel- dungsunterlagen unzulässig erweitert sei, da beanspruchte Merkmale so nicht den ursprünglichen Unterlagen zu entnehmen seien. Gegen den von der Prüfungsstelle in der Anhörung am 8. Mai 2007 verkündeten Beschluss, hat der Anmelder mit Schreiben vom 8. Juni 2007, eingegangen beim Deutschen Patent- und Markenamt am gleichen Tage, Beschwerde eingelegt. Mit der mit Schriftsatz vom 28. Juni 2007, eingegangen beim Deutschen Patent- und Markenamt als Fax am 29. Juni 2007, im Original am 3. Juli 2007, eingereichten - 3 - Begründung verfolgt der Anmelder und Beschwerdeführer seine Anmeldung mit geänderten Ansprüchen weiter. Der Anmelder beantragt in der mündlichen Verhandlung, den Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G 01 N vom 8. Mai 2007 aufzuheben und das nachgesuchte Patent auf der Grundlage folgender Unterlagen zu erteilen: Hauptantrag Patentansprüche: Patentansprüche 1 bis 18 vom 3. Juli 2007 Beschreibung: Beschreibungsseiten 1 bis 5 vom 3. Juli 2007 Zeichnungen: Figuren 1 bis 3 vom Anmeldetag 19. April 1999. Hilfsantrag 1 Patentansprüche: Patentansprüche 1 bis 18 vom 12. April 2012 Beschreibung und Zeichnungen wie Hauptantrag. Hilfsantrag 2 Patentanspruch 1, überreicht in der mündlichen Verhandlung am 18. April 2012, übrige Ansprüche wie Hilfsantrag 1. Beschreibung und Zeichnungen wie Hauptantrag. Hilfsantrag 3 Patentansprüche 1 bis 18, überreicht in der mündlichen Verhand- lung am 18. April 2012, Beschreibung und Zeichnungen wie Hauptantrag. - 4 - Der Patentanspruch 1 gemäß Hauptantrag lautet: "1. Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Ab- sorption und Fluoreszenz, mit Ŷ Durchstrahlen der Messzelle mit einem Meßstrahl für die zu untersuchende Prozeßflüssigkeit oder Stoffkomponenten in ei- ner Prozeß-Gasphase, wobei das jeweilige Konzentrationssig- nal der Prozeßflüssigkeit oder –gasphase aus den Sensor- Signalen des Meßstrahls umgerechnet wird Ŷ Durchstrahlen der Messzelle mit einem Referenzstrahl, der durch die Verschmutzung geschwächt wird, wobei die Ver- schmutzung der Zelle aus den Sensor-Signalen des Referenz- strahls umgerechnet wird und Ŷ Säubern der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit nach Überschreiten eines vorgegebenen Schwellenwertes der Ver- schmutzung." Hieran schließen sich die Unteransprüche 2 bis 13, sowie der nebengeordnete An- spruch 14 mit Unteransprüchen 15 bis 18 an, zu deren Wortlaut auf die Gerichts- akte verwiesen wird. Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 1 lautet: "1. Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Ab- sorption und Fluoreszenz, mit Ŷ - in an sich bekannter Weise: - 5 - Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Messzelle mit einem Meßstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Messzelle mit einem Referenzstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Messzelle mit dem Meßstrahl und Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Messzelle mit dem Referenzstrahl Ŷ Erfassen der jeweiligen durch die Messzelle durchgelassenen Strahlen mit einem Meßsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle vorbeigeführten Teilmeß- strahls mit einem Referenzsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle vorbeigeführten Teilreferenz- strahls mit einem Referenzsensor; gekennzeichnet durch: Ŷ Bestimmen der Intensität des Referenzstrahls beim Durch- strahlen der Prozessflüssigkeit durch eine Auswerteelektro- nik (10) aus den Messwerten der Sensoren (5,8) und Ver- gleich dieser Intensität mit einem vorgegebenen Schwellen- wert; Ŷ wenn die Referenzstrahlintensität beim Durchstrahlen der Pro- zessflüssigkeit unter dem Schwellenwert liegt, Aktivierung ei- nes Reinigungsvorgangs mit Durchströmen der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit; Ŷ Einbringen der Referenzflüssigkeit in die Messzelle und Mes- sen der Intensität des Referenzstrahls mit Auswerten der von Messstrahl und Referenzstrahl transmittierten Intensitäten." Hieran schließen sich die Unteransprüche 2 bis 13, sowie der nebengeordnete An- spruch 14 mit Unteransprüchen 15 bis 18 gemäß Hilfsantrag 1 an, zu deren Wort- laut auf die Gerichtsakte verwiesen wird. - 6 - Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 2 lautet: "1. Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Ab- sorption oder Fluoreszenz, mit Ŷ - in an sich bekannter Weise: Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Messzelle mit einem Meßstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Messzelle mit einem Referenzstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Messzelle mit dem Meßstrahl und Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Messzelle mit dem Referenzstrahl Ŷ Erfassen der jeweiligen durch die Messzelle durchgelassenen Strahlen mit einem Meßsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeigeführ- ten Teilmeßstrahls mit einem Referenzsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeigeführ- ten Teilreferenzstrahls mit einem Referenzsensor; gekennzeichnet durch: Ŷ Bestimmen der Intensität des Referenzstrahls beim Durch- strahlen der Prozessflüssigkeit durch eine Auswerteelektro- nik (10) aus den Messwerten der Sensoren (5,8) und Ver- gleich dieser Intensität mit einem vorgegebenen Schwellen- wert; Ŷ wenn die Referenzstrahlintensität beim Durchstrahlen der Pro- zessflüssigkeit unter dem Schwellenwert liegt, Aktivierung ei- nes Reinigungsvorgangs mit Durchströmen der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit; - 7 - Ŷ Einbringen der Referenzflüssigkeit in die Messzelle und Mes- sen der Intensität des Referenzstrahls mit Auswerten der von Messstrahl und Referenzstrahl transmittierten Intensitäten." Hieran schließen sich die Ansprüche 2 bis 18 gemäß Hilfsantrag 1 an. Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 3 lautet: "1. Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von Isopropanol oder Isopropanol-Ersatz-Stoffgemischen unter Nutzung von opti- scher Absorption, mit Ŷ - in an sich bekannter Weise: Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit Isopropanol oder Er- satzstoff gefluteten Messzelle mit einem Meßstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit Isopropanol oder Er- satzstoff gefluteten Messzelle mit einem Referenzstrahl, Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit Wasser gefluteten Messzelle mit dem Meßstrahl und Ŷ Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit Wasser gefluteten Messzelle mit dem Referenzstrahl Ŷ Erfassen der jeweiligen durch die Messzelle durchgelassenen Strahlen mit einem Meßsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeigeführ- ten Teilmeßstrahls mit einem Referenzsensor Ŷ Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeigeführ- ten Teilreferenzstrahls mit einem Referenzsensor; gekennzeichnet durch: Ŷ Bestimmen der Intensität des Referenzstrahls beim Durch- strahlen der Prozessflüssigkeit Isopropanol od. ein Ersatzstoff durch eine Auswerteelektronik (10) aus den Messwerten der - 8 - Sensoren (5,8) und Vergleich dieser Intensität mit einem vor- gegebenen Schwellenwert; Ŷ wenn die Referenzstrahlintensität beim Durchstrahlen der Pro- zessflüssigkeit Isopropanol od. e. Ersatzstoffes unter dem Schwellenwert liegt, Aktivierung eines Reinigungsvorgangs mit Durchströmen der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit; Ŷ Einbringen der Referenzflüssigkeit Wasser in die Messzelle und Messen der Intensität des Referenzstrahls mit Auswerten der von Messstrahl und Referenzstrahl transmittierten Intensi- täten um den Status der Verschmutzung zu erfassen." Hieran schließen sich die Unteransprüche 2 bis 13, sowie der nebengeordnete An- spruch 14 mit Unteransprüchen 15 bis 18 gemäß Hilfsantrag 3 an, zu deren Wort- laut ebenfalls auf die Gerichtsakte verwiesen wird. Der Anmelder und Beschwerdeführer meint, die Gegenstände der Ansprüche 1 in der Fassung der jeweiligen Anträge ergäben sich für den Fachmann auf Grund seines Fachwissens aus den ursprünglichen Unterlagen. Im Übrigen seien die Ge- genstände des Anspruchs 1 gemäß Hauptantrag und gemäß den Hilfsanträgen 1 bis 3 patentfähig, da sie neu seien und auch auf einer erfinderischen Tätigkeit be- ruhten. Bezüglich der weiteren Einzelheiten wird auf den Inhalt der Akten verwiesen. II. Die zulässige Beschwerde hat keinen Erfolg. Die Anmeldung enthält in der im Be- schwerdeverfahren beanspruchten Fassung nach Hauptantrag wie auch nach Hilfsantrag 1 bis 3 nicht beseitigte Mängel i. S. d. § 45 Abs. 1 i. V. m. § 38 PatG, die einer Patenterteilung entgegenstehen. Die Zurückweisung der Anmeldung durch die Prüfungsstelle ist daher im Ergebnis zu Recht erfolgt (§ 48 PatG). - 9 - 1. Der Anmeldungsgegenstand betrifft gemäß Beschreibung Seite 2, Absatz 2 der ursprünglichen Unterlagen ein Verfahren und eine Vorrichtung, zur automatischen Reinigung von optoelektronischen Sensorsystemen, die zur Stoffanalyse von flüs- sigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Absorption und/oder Fluoreszenz eingesetzt würden. Die Analyse, die von diesen Sensorsys- temen vorgenommen werde, bestehe in der Erfassung der Art und der Konzentra- tion einzelner Stoffe in diesen Stoffgemischen. Im Betriebszustand würden diese Sensorsysteme von den zu untersuchenden Gemischen durchströmt, wobei sich auf deren optischen Komponenten, wie etwa der Innenwand einer Messzelle, Ver- schmutzungen ablagerten, die von den zu erfassenden Stoffgemischen verursacht würden. Diese Verschmutzungen führten zu einer Verschlechterung der Messbe- dingungen und könnten bis zu einer Verfälschung der Messergebnisse des Sen- sorsystems führen, so dass diese Verschmutzungen in zu bestimmenden Zeitab- schnitten beseitigt werden müssten. Es sei daher gemäß Seite 2, Absatz 2, der ursprünglichen Beschreibung Aufgabe der Erfindung, den physikalisch unvermeidlichen Niederschlag von Schmutz- und Störstoffen auf den genannten optischen Komponenten derartiger Sensorsysteme automatisch zu entfernen, um zu jedem Zeitpunkt eine richtige und störungsfreie Messung garantieren zu können. 2. Der für die Beurteilung der Lehre der Anmeldung zuständige Fachmann ist nach Überzeugung des Senats ein Diplom-Physiker mit Fachhochschulabschluss und mehrjähriger Berufserfahrung auf dem Gebiet der physikalischen Fluidanalyse mit Hilfe optischer Methoden. 3. Hauptantrag Der Gegenstand der Anmeldung wird durch die im Anspruch 1 vorgenommenen Änderungen unzulässig erweitert. - 10 - Das Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektronischen Sensorsyste- men des Anspruchs 1 gemäß Hauptantrag wird durch folgende Merkmale des An- spruchs 1 beschrieben (mit Merkmalsgliederung, ohne Angabe von Bezugszei- chen): 1.1. Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Absorption und Fluoreszenz, mit 1.2. Durchstrahlen der Messzelle mit einem Messstrahl für die zu untersuchende Prozeßflüssigkeit oder Stoffkomponenten in einer Prozeß-Gasphase, 1.3. wobei das jeweilige Konzentrationssignal der Prozeßflüssig- keit oder –gasphase aus den Sensorsignalen des Mess- strahls umgerechnet wird, 1.4. Durchstrahlen der Messzelle mit einem Referenzstrahl, der durch die Verschmutzung geschwächt wird, 1.5. wobei die Verschmutzung der Zelle aus den Sensorsignalen des Referenzstrahls umgerechnet wird und 1.6. Säubern der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit nach Überschreiten eines vorgegebenen Schwellenwertes der Verschmutzung. Zum Offenbarungsgehalt einer Patentanmeldung gehört im Zusammenhang mit der Frage, ob eine unzulässige Erweiterung vorliegt, nur das, was den ursprüng- lich eingereichten Unterlagen unmittelbar und eindeutig zu entnehmen ist, und nicht hingegen eine weitergehende Erkenntnis, zu der der Fachmann aufgrund seines allgemeinen Fachwissens oder durch Abwandlung der offenbarten Lehre gelangen kann (vgl. BGH, Urteil vom 8. Juli 2010 - Xa ZR 124/07 – Fälschungssi- cheres Dokument). Eine unzulässige Erweiterung liegt vor, wenn der Gegenstand der Anmeldung sich für den Fachmann erst aufgrund eigener, von seinem Fach- - 11 - wissen getragener Überlegungen ergibt, nachdem er die ursprünglichen Unterla- gen zur Kenntnis genommen hat (vgl. BGH, Urteil vom 22. Dezember 2009 - X ZR 27/06 – Hubgliedertor I). Insbesondere das Merkmal 1.3 des Anspruchs 1 des Hauptantrags, wonach "das jeweilige Konzentrationssignal der Prozessflüssigkeit oder –gasphase aus den Sensorsignalen des Messstrahls umgerechnet wird" (Unterstreichung hinzugefügt) ist für den Fachmann den Ursprungsunterlagen in dieser Form nicht unmittelbar und eindeutig zu entnehmen, so dass der Gegenstand des Anspruchs als unzuläs- sig erweitert gelten muss. Denn auf Seite 3, Absatz 3, Zeilen 6 bis 10 der ur- sprünglichen Beschreibung ist in Verbindung mit Figur 1 ausgeführt: "Die Signale von Meßsensor … und Referenzsensor … werden … in das jeweilige Konzentra- tionssignal … umgerechnet." (Unterstreichung hinzugefügt). Dies bedeutet, dass sich das Konzentrationssignal nicht allein aus dem vom Messstrahl herrührenden Messsignal berechnet, wie der geltende Anspruch 1 festlegt, sondern gemeinsam aus den Messergebnissen des Messstrahls und des Referenzstrahls umgerechnet wird, die diese am Messsensor und am Referenzsensor erzeugen. Andere Anga- ben sind der ursprünglichen Beschreibung nicht zu entnehmen. Bei dieser Sachlage kann es dahin gestellt bleiben, dass auch die Merkmale 1.2 und 1.5 des Anspruchs 1 des Hauptantrags für den Fachmann ebenfalls nicht un- mittelbar und eindeutig aus den ursprünglichen Unterlagen zu entnehmen sind. Mit dem mängelbehafteten Anspruch 1 gemäß Hauptantrag fallen auch die hierauf rückbezogenen Ansprüche 2 bis 18 des Hauptantrags, da das Patent nur so erteilt werden kann, wie es beantragt ist (BGH, Beschluss vom 26. September 1996 - X ZB 18/95, GRUR 1997, 120 - elektrisches Speicherheizgerät mit weiteren Nachweisen). - 12 - 4. Hilfsanträge 1 bis 3: Der Gegenstand der Anmeldung wird durch die im Anspruch 1 der Hilfsanträge 1 bis 3 vorgenommenen Änderungen unzulässig erweitert. a) Der Anspruch 1 des Hilfsantrags 1 wird durch folgende Merkmale charakteri- siert (mit Merkmalsgliederung, ohne Angabe von Bezugszeichen): H1.1 Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Absorption und Fluoreszenz, mit in an sich bekannter Wei- se: H1.2 Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Mess- zelle mit einem Messstrahl, H1.3 Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit gefluteten Mess- zelle mit einem Referenzstrahl, H1.4 Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Mess- zelle mit dem Messstrahl und H1.5 Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit gefluteten Mess- zelle mit dem Referenzstrahl H1.6 Erfassen der jeweiligen durch die Messzelle durchgelas- senen Strahlen mit einem Messsensor H1.7 Erfassen eines an der Messzelle vorbeigeführten Teil- messstrahls mit einem Referenzsensor H1.8 Erfassen eines an der Messzelle vorbeigeführten Teilrefe- renzstrahls mit einem Referenzsensor gekennzeichnet durch: H1.9 Bestimmen der Intensität des Referenzstrahls beim Durch- strahlen der Prozessflüssigkeit durch eine Auswerteelek- tronik aus den Messwerten der Sensoren - 13 - H1.10 und Vergleich dieser Intensität mit einem vorgegebenen Schwellenwert; H1.11 wenn die Referenzstrahlintensität beim Durchstrahlen der Prozessflüssigkeit unter dem Schwellenwert liegt, Aktivie- rung eines Reinigungsvorgangs mit Durchströmen der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit; H1.12 Einbringen der Referenzflüssigkeit in die Messzelle und Messen der Intensität des Referenzstrahls mit Auswerten der von Messstrahl und Referenzstrahl transmittierten In- tensitäten. Die in diesem Verfahrensanspruch nacheinander aufgeführten Merkmale H1.2 bis H1.5 implizieren, dass es sich hierbei auch um nacheinander auszuführende Ver- fahrensschritte handelt, wie der Anmelder auch eingeräumt hat, die jedoch so nicht ursprünglich offenbart sind. Im Einzelnen wird beansprucht, dass zunächst eine "mit Prozessflüssigkeit geflutete Messzelle" mit einem Messstrahl und an- schließend dieselbe Messzelle mit einem Referenzstrahl durchstrahlt wird (Merk- male H1.2 und H1.3). Unmittelbar nach diesen Schritten muss offensichtlich die Prozessflüssigkeit ausgetauscht werden, damit ein Durchstrahlen der nun "mit Re- ferenzflüssigkeit gefluteten Messzelle" mit dem Messstrahl und wiederum an- schließend mit einem Referenzstrahl erfolgen kann (Merkmale H1.4 und H1.5). Die in den ursprünglichen Unterlagen relevanten Textstellen, nämlich Seite 2, Ab- satz 3, Zeilen 1 bis 6 ("… löst diese … Aufgabenstellung … einerseits durch den zyklischen Einsatz von Reinigungsflüssigkeiten und andererseits durch zusätzliche kombinierte Anwendung von Referenzflüssigkeiten.") und der ursprüngliche An- spruch 6 ("…, dass die Restverschmutzung bei gleichzeitiger Anwesenheit eines Referenzmediums im optischen Strahlengang ermittelt … wird.") vermögen aber weder diese konkrete Reihenfolge von Verfahrensschritten noch den implizit not- wendigen Austausch der in der Messzelle befindlichen Flüssigkeiten (d. h. Pro- zessflüssigkeit gegen Referenzflüssigkeit) im Rahmen des beanspruchten auto- matischen Reinigungsverfahrens zu stützen. Die Betrachtung der Seite 2, Ab- - 14 - satz 3, Zeilen 11 bis 24 der Ursprungsunterlagen zeigt zusätzlich einen Wider- spruch zur beanspruchten Vorgehensweise, denn hier wird beschrieben, dass auf einen Prozesskreislauf mit Prozessflüssigkeit ein Reinigungskreislauf mit Reini- gungsflüssigkeit folgt, wobei diesem wiederum eine "Spülung der Messzelle (3) mit einer Referenzflüssigkeit" folgt. Das explizite Weglassen dieses Zwischenschrittes führt ebenfalls zu einer unzulässigen Erweiterung, da der einzig ursprünglich of- fenbarte (und technisch auch eine sinnvolle Kausalkette darstellende) Ablauf von Verfahrensschritten so nicht beansprucht wird. Bei dieser Sachlage erübrigt es sich auf die Merkmale H1.7, H1.8 und H1.9 einzu- gehen, die vom Fachmann den Ursprungsunterlagen ebenfalls so nicht unmittel- bar und eindeutig zu entnehmen sind. b) Der Anspruch 1 des Hilfsantrags 2 ergänzt den Wortlaut des Anspruchs 1 des Hilfsantrags 2 lediglich in den Merkmalen H1.7 und H1.8 durch das Adjektiv "unge- schwächt" vor dem Wort "vorbeigeführt" und ersetzt in H1.1 im Rahmen der physi- kalischen Nutzungsangabe das "und" durch ein "oder" (Merkmalsgliederung, ohne Angabe von Bezugszeichen, Änderungen im Vergleich zum ursprünglichen Merk- mal gemäß Hilfsantrag 1 fett): H1.1 Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von flüssigen und gasförmigen Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Absorption oder Fluoreszenz, mit in an sich bekannter Wei- se: … H1.7 Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeige- führten Teilmessstrahls mit einem Referenzsensor H1.8 Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeige- führten Teilreferenzstrahls mit einem Referenzsensor. - 15 - Der Anspruch 1 des Hilfsantrags 2 ist hinsichtlich der gemäß den Merkmalen H1.2 bis H1.5 auszuführenden Verfahrensmaßnahmen identisch mit dem anspruchsge- mäßen Verfahren des Hilfsantrags 1. Es gelten somit hier die zum Anspruch 1 des Hilfsantrags 1 gemachten Feststellungen fort. Bei dieser Sachlage kann es dahinstehen, dass auch die hier vorgenommenen Einfügungen vom Fachmann den ursprünglichen Unterlagen nicht unmittelbar und eindeutig zu entnehmen sind. c) Der Anspruch 1 des Hilfsantrags 3 präzisiert durch Substanzangaben die bean- spruchten Stoffgemische, die Prozessflüssigkeit und die Referenzflüssigkeit des Anspruchs 1 des Hilfsantrags 2 (mit Merkmalsgliederung, ohne Angabe von Be- zugszeichen, Änderungen im Vergleich zu Anspruch 1 gemäß Hilfsantrag 2 fett bzw. doppelt durchgestrichen, einschließlich in Klammern ausgeschriebener Wor- te, die in den in der Verhandlung überreichten Unterlagen abgekürzt wurden): H1.1 Verfahren zur automatischen Reinigung von optoelektroni- schen Sensorsystemen zur Stoffanalyse von Isopropanol oder Isopropanol-Ersatz-Stoffgemischen unter Nutzung von optischer Absorption und Fluoreszenz, mit in an sich bekannter Weise: H1.2 Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit Isopropanol oder Ersatzstoff gefluteten Messzelle mit einem Mess- strahl, H1.3 Durchstrahlen der mit Prozessflüssigkeit Isopropanol oder Ersatzstoff gefluteten Messzelle mit einem Refe- renzstrahl, H1.4 Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit Wasser geflute- ten Messzelle mit dem Messstrahl und H1.5 Durchstrahlen der mit Referenzflüssigkeit Wasser geflute- ten Messzelle mit dem Referenzstrahl - 16 - H1.6 Erfassen der jeweiligen durch die Messzelle durchgelas- senen Strahlen mit einem Messsensor H1.7 Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeige- führten Teilmessstrahls mit einem Referenzsensor H1.8 Erfassen eines an der Messzelle ungeschwächt vorbeige- führten Teilreferenzstrahls mit einem Referenzsensor gekennzeichnet durch: H1.9 Bestimmen der Intensität des Referenzstrahls beim Durch- strahlen der Prozessflüssigkeit Isopropanol oder ein(es) Ersatz-Stoff(es) durch eine Auswerteelektronik aus den Messwerten der Sensoren H1.10 und Vergleich dieser Intensität mit einem vorgegebenen Schwellenwert; H1.11 wenn die Referenzstrahlintensität beim Durchstrahlen der Prozessflüssigkeit Isopropanol o(der) e(ines) Ersatz- Stoffes unter dem Schwellenwert liegt, Aktivierung eines Reinigungsvorgangs mit Durchströmen der Messzelle mit einer Reinigungsflüssigkeit; H1.12 Einbringen der Referenzflüssigkeit Wasser in die Mess- zelle und Messen der Intensität des Referenzstrahls mit Auswerten der von Messstrahl und Referenzstrahl trans- mittierten Intensitäten, um den Status der Verschmut- zung zu erfassen. Der Anspruch 1 des Hilfsantrags 3 ist hinsichtlich der gemäß den Merkmalen H1.2 bis H1.5 auszuführenden Verfahrensmaßnahmen unverändert gegenüber dem an- spruchsgemäßen Verfahren des Hilfsantrags 1 bzw. 2. Es gelten somit hier die zum Anspruch 1 des Hilfsantrags 1 gemachten Feststellungen fort. - 17 - d) Mit den mängelbehafteten Ansprüchen 1 der Hilfsanträge 1 bis 3 fallen auch al- le anderen Ansprüche der jeweiligen Anspruchsfassungen (jeweils Ansprüche 2 bis 18), da ein Patent nur so erteilt werden kann, wie es beantragt ist (BGH a. a. O. - elektrisches Speicherheizgerät mit weiteren Nachweisen). 5. Bei dieser Sachlage kommt es nicht mehr darauf an, ob der Anmeldungsgegen- stand in den verschiedenen Antragsfassungen den Anforderungen der §§ 3 und 4 PatG genügt. Dr. Mayer Kopacek Kleinschmidt Dr. Wollny Pü